目前工作轉換已經將近三個月,接觸的領域與半導體測試相關,雖然從事電子商品設計二十多年,使用過的半導體元件也不計其數,不過對於這些元件特性測試那又是另一回事,本文簡單說明兩種半導體常見的測試方法。
1. Shmoo Tool (醒目)
這方法用於檢查兩項因素之間的關聯,以二維圖示 Pass/Fail,X 軸顯示一個參數,Y 軸顯示另一個參數,通常以 'X' 代表 Pass,以 '.' 代表 Fail。
例如,Shmoo 可以表示 VDD/VIL 特性,Y 軸為 VDD 從 5.5 V 到 3.5 V。X 軸為 VIL 從 2.0 V 到 0.0 V。
VDD
5.5 V |........XXXXXXXXXXXXX
5.4 V |........XXXXXXXXXXXXX
5.3 V |........XXXXXXXXXXXXX
5.2 V |.........XXXXXXXXXXXX
5.1 V |.........XXXXXXXXXXXX
5.0 V |.........XXXXXXXXXXXX
4.9 V |.........XXXXXXXXXXXX
4.8 V |.........XXXXXXXXXXXX
4.7 V |..........XXXXXXXXXXX
4.6 V |..........XXXXXXXXXXX
4.5 V |..........XXXXXXXXXXX
4.4 V |..........XXXXXXXXXXX
4.3 V |..........XXXXXXXXXXX
4.2 V |..........XXXXXXXXXXX
4.1 V |..........XXXXXXXXXXX
4.0 V |..........XXXXXXXXXXX
3.9 V |..........XXXXXXXXXXX
3.8 V |...........XXXXXXXXXX
3.7 V |............XXXXXXXXX
3.6 V |............XXXXXXXXX
3.5 V |............XXXXXXXXX
-+----+----+----+----+-
2.0V 1.5V 1.0V 0.5V 0.0V
VIL
這方法用來檢查 Input/Output pin 的訊號準位,可以二元 (Binary) 或線性 (Linear) 搜尋測試,二元搜尋的速度是比較快,不過 Schmitt Trigger 測試僅適合線性搜尋。
當我第一次看到 Shmoo 這個詞語,完全不知道這是甚麼東西,之後從範例才了解它是雙參數聯合標示圖。
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